頂空自動進樣

簡要描述：利用頂空進樣器可以分析液體、固體樣品中的揮發性成分。所謂頂空是指“物體上部的空間“，在液體、固體的上部存在物體中所含有的成分，特別是低沸點的成分。頂空進樣器是將已封入樣品瓶中的樣品恒溫一定時間，當氣液或氣固兩相達到熱力學平衡后采樣，然后將氣相部分導入氣相色譜儀（GC）進行分析的裝置。可用于食品中的香氣成分、化工產品的臭味成分、環境水中的有害揮發成分的定性、定量分析。

所屬分類：樣品前處理儀器

更新時間：2024-07-29

聯系我們在線咨詢

詳細說明：

詳細說明：
利用頂空進樣器可以分析液體、固體樣品中的揮發性成分。所謂頂空是指"物體上部的空間"，在液體、固體的上部存在物體中所含有的成分，特別是低沸點的成分。頂空進樣器是將已封入樣品瓶中的樣品恒溫一定時間，當氣液或氣固兩相達到熱力學平衡后采樣，然后將氣相部分導入氣相色譜儀（GC）進行分析的裝置。可用于食品中的香氣成分、化工產品的臭味成分、環境水中的有害揮發成分的定性、定量分析。

島津新型頂空進樣器　HS-20系列

從研究開發到品質管理，HS-20系列頂空進樣器全面有力支持揮發性成分的分析。HS-20系列頂空進樣器包括定量環模式HS-20，HS-20LT型號和內置捕集阱功能的HS-20Trap型號。

特長

的性能
高重現性與低交叉污染隨時保證準確的定量。zui高溫度達300℃的加熱爐對應高沸點化合物的分析。

高重現性
HS-20系列頂空進樣器采用基于電子式流量控制器（AFC）的高精度流量控制，樣品瓶從加熱爐底部進入，有效降低熱損失，實現了高重現性。
在重疊加熱模式下，zui大化減少系統熱損失，保證系統的熱穩定性。

低交叉污染
通過將樣品流路惰性化以及zui大化縮短樣品路徑，實現了傳統頂空難以達到的低交叉污染。即使醋酸等極性化合物也沒有殘留，實現高可靠性的分析。

高溫兼容性
HS-20系列頂空進樣器基于可設置zui高達300℃的加熱爐和簡單、惰性的樣品流路，使以往頂空進樣器難以實施的高沸點化合物分析成為可能。

環硅氧烷是生產硅的原料，在油或液狀橡膠等產品中有微量存在。環硅氧烷具有揮發性，有可能造成電子部件接點部等的不良，其濃度管理非常重要。HS-20系列頂空進樣器可以在同一條件下測定從環硅氧烷到鄰苯二甲酸酯的物質。

方便使用的設計
采用追求操作簡便性的用戶友好式設計，樣品瓶取出放置非常簡便。
進樣針、定量環、捕集阱等消耗品，可以從裝置上方簡便更換。

方便使用的樣品盤
HS-20的樣品盤高于桌面20cm，隨時都可以觀察到所有的樣品盤，因此容易放置樣品，防止上樣時出錯。
無需特殊附件，可以混放10mL、20mL的樣品瓶進行分析。
并且，準備了選配件條形碼讀取器，可以以條形碼追蹤管理樣品。

簡便維護
HS-20系列頂空進樣器采用從裝置上方簡便進行樣品環路、進樣針更換等維護操作的設計。
當高濃度樣品等造成樣品流路污染時，可以更換配管單體。毛細管色譜柱的接頭與GC樣品氣化室通用，方便色譜柱的更換。
HS-20系列頂空進樣器還采用維護時停機時間的zui小化設計，提高了實驗室的分析效率。

的擴展性
捕集阱型號的頂空進樣器通過濃縮頂空氣體，可以對部件、材料發生的氣體等進行超微量成分的分析。并且，如果配備選配件條形碼讀取器，則可以實現與色譜數據系統相關聯的樣品管理。

電子冷卻捕集阱（捕集阱型號）
捕集阱型號的HS-20Trap內置電子冷卻捕集阱，可以濃縮頂空氣體進行高靈敏度分析。針對含水樣品，通過使用疏水性的Tenax填料，可以濃縮、分析從含有水分樣品的低沸點化合物到高沸點化合物。
捕集阱模式與使用定量環的一般模式可以方便地切換方法文件。批處理連續分析時，捕集阱模式與環路模式可以交替分析。

咖啡中香氣成分的高靈敏度分析
高靈敏度的電子冷卻捕集阱與GCMS組合，使以往頂空進樣器無法檢測的微量香氣成分的定性·定量成為可能。